韓媒：LG Display正在開發(fā)Micro LED檢測與返修技術

3月17日，據韓媒The Elec報道，LG Display自去年4月以來一直在參與由產業(yè)通商資源部推動的Micro LED檢測和修國家研發(fā)項目。

該研發(fā)項目由蔚山科學技術大學（UNIST）、韓國顯示器產業(yè)協(xié)會、Hubio 和 Justem 聯(lián)合參與。作為面板制造商，LG Display 負責工藝驗證和性能評估。該項目采用的模式是：設備制造商和研究機構開發(fā)檢測和返修工藝技術，而 LG Display 則從實際生產應用的角度進行驗證。

Micro LED顯示屏是通過將數十萬至數百萬個超小型LED芯片轉移并排列到基板上而制成的。與使用有機物的OLED不同，它采用無機發(fā)光元件，在亮度、壽命和能效方面表現出色，被視為下一代顯示技術。但由于工藝難度高，量產過程中可能會出現部分芯片無法正常工作的不良像素。由于像素尺寸僅為5-100微米級別，制造過程中不可避免地會出現壞點。

因此，在Micro LED生產過程中，檢測缺陷像素的檢測技術和更換或修復缺陷像素的返修技術至關重要。傳統(tǒng)的電致發(fā)光（EL）檢測方法需要物理接觸，存在損壞芯片的風險。基于光學技術的光致發(fā)光（PL）方法雖可以實現非接觸式檢測，但由于精度較低，其存在局限性。

行業(yè)分析師認為，開發(fā)結合檢測和返修工藝的技術勢在必行。即使假設高分辨率面板的良率達到99.99%，仍然可能出現數萬個不良像素，這意味著檢測和返修工藝的效率與生產效率直接相關。

顯示行業(yè)相關人士表示：“由于制造工藝的特性，Micro LED出現缺陷像素是不可避免的。檢測與返修技術是發(fā)現并更換這些像素的工藝，對確保良率起著重要作用。”

為了實現Micro LED的商業(yè)化，必須確保包括轉移、鍵合、檢測和返修在內的整體工藝技術的穩(wěn)定性。尤其值得一提的是，檢測和返修技術被認為是同時決定良率和制造成本的關鍵因素。另一位顯示行業(yè)人士解釋說：“確保返修技術與其說是直接加速商業(yè)化，不如說對降低生產成本影響更大。因為良率提升后，整體制造成本就會降低。”

另值得一提的是，作為上級項目，“無機發(fā)光(iLED)顯示技術開發(fā)生態(tài)圈構建項目”從去年開始至2032年推進，總投資規(guī)模達4840億韓元。無機發(fā)光顯示是一個涵蓋下一代發(fā)光技術的概念，其中包括Micro LED。

該項目的具體課題包括“芯片更換型中小尺寸Micro LED顯示面板檢測與返修工藝技術開發(fā)”和“芯片非更換型面板檢測與返修工藝技術開發(fā)”等，每項任務的執(zhí)行時間約為45個月。

LEDinside整理

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